出展社詳細

小間番号	M-44
出展社名	ブルカージャパン株式会社 http://bruker-nano.jp
住所	〒104-0033 東京都中央区新川1-4-1
担当部署	ナノ表面計測事業部
TEL	03-3523-6361
FAX	03-3523-6364
E-mail	info-nano.bns.jp@bruker.com
みどころ	40年以上にわたる開発実績をベースに、精密電子部品から車載部品等の大型試料に至るまでの幅広いサイズのサンプルに対応した 非接触３次元形状測定Contourシリーズと業界に長く愛される安定した測定パフォーマンが定評の触針式プロファイラーDektakをご紹介します。 ブルカーブースでは、「三次元白色干渉型顕微鏡 Contour X500」と「触針式プロファイラー Dektak XT」の測定デモを実施します。経験豊富なスタッフが皆様の課題解決に直結するソリューションを提案致します。
製品情報	新製品 三次元白色干渉型顕微鏡 Contour シリーズ＜会期中 試料測定サービス実施中＞ 白色光干渉型光学顕微鏡 ContourXシリーズ ContourX-100は、数十年にわたるブルカー独自の白色光干渉計（WLI）の革新的な技術を取り入れた合理化されたパッケージで、妥協のない2D/3Dの高解像度測定機能を提供します。ゲージ対応のベンチトップシステムは、操作画面は直感的でわかりやすいインターフェースを提供し、精密機械加工された表面、厚膜、トライボロジーアプリケーション等向けにプログラムされたフィルター機能や分析機能の豊富なライブラリの他、高速、高精密な計測データを提供します。 PDFダウンロード
	触針式薄膜段差計 Dektakシリーズ＜会期中 持ち込み試料測定サービス実施中＞ 4Å以下の段差測定再現性 膜圧段差計の業界スタンダード 40年以上業界をリードしてきたDektakシリーズの第10世代目の最新機種。 シングルアーチ設計とスマート・エレクトロニクスにより測定再現性5Åを実現し、ダイレクトドライブ・ステージは測定時間を40%向上させます。64ビットコンピュータ上で動作するVision64は従来の10倍の高速データ解析を行います。またオールインワン設計のスタイラスセンサーヘッドは、ヘッド交換無しで、ロングレンジスキャンと低触圧測定モードを同時に実現します。 PDFダウンロード
SDGsへの貢献

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