出展社詳細
| 小間番号 | T-38 |
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| 出展社名 | （株）アイ・アール・システム
https://www.irsystem.com/ |
| 住所 |
〒206-0041 東京都多摩市愛宕4-6-20 |
| 担当部署 | 営業1部 |
| TEL | 042-400-0373 |
| FAX | 042-400-0374 |
| office@irsystem.com | |
| みどころ | ☆ 検査工程の属人化を防ぐ、非接触・非破壊の測定装置 ☆ 【測定対象】工業製品 / 光学部品 / 半導体部品 / 半導体ウェハ / 材料 など 《アクティブサーモグラフィ》 「内部欠陥」検査装置 《光超音波センサ》 「内部欠陥」検査装置 《走査型3Dプロファイラ》 「三次元形状」測定装置 《スクラッチ・ディグ自動検査装置》 「表面キズ」検査装置 《粗さプロファイラ》 「表面粗さ」測定装置 |
| 製品情報 |
【概要】測定対象に外部から熱を与えた際の温度変化をサーモグラフィで捉えることで、 人の目に見えない欠陥を「見える化」します。 【主な用途】 ・内部欠陥の検査 ・マイクロクラック(表面)の検査 【測定対象】 ・工業製品 ・材料 ・半導体部品 など 【特長】 ・非接触・非破壊 ・人の主観を含まない客観的な検査が可能 ・X線CTと異なり届け出が不要
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新製品 光超音波センサ 測定対象に外部から熱を与えた際に出る超音波を捉えることで、 人の目に見えない欠陥を「見える化」します。 【主な用途】 ・内部欠陥の検査 ・マイクロクラック(表面)の検査 【測定対象】 ・光学部品 ・工業製品 など 【特長】 ・非接触・非破壊 ・人の主観を含まない客観的な検査が可能 ・幅広い測定対象
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新製品 
【概要】光を用いて測定対象の形状をスキャンし、 その形状を3Dデータで表示・記録します。 【主な用途】 ・製品や試作品の評価 ・製品の不良検査 【測定対象】 ・光学部品 ・工業製品 ・半導体ウェハ など 【特長】 ・非接触・非破壊 ・人の主観を含まない客観的な検査が可能 ・幅広い測定対象
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【概要】光を用いて物体表面のキズを検出し、 スクラッチ・ディグの評価や検査レポートの作成を行います。 【主な用途】 ・量産品の出荷検査・成績書作成 ・試作品の品質評価 【測定対象】 ・光学部品 ・半導体ウェハ など 【特長】 ・非接触・非破壊 ・MIL規格またはISO規格に準拠した定量評価 ・複数個を並べて測定する場合でも個体ごとのレポートを作成 ・ユーザ側で設定できる閾値に応じて、合否判定も可能
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新製品 光の干渉を用いて、物体表面の微小な粗さや歪みを測定します。 【主な用途】 ・研磨面の表面粗さの評価 【測定対象】 ・光学部品 ・半導体ウェハ など 【特長】 ・非接触・非破壊 ・人の主観を含まない客観的な検査が可能 ・ロボットアームに取り付けて広範囲のスキャンも可能
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